EANS-News: PVA TePla AG stärkt Halbleiter-Aktivitäten - Übernahme der Munich Metrology GmbH
-------------------------------------------------------------------------------- Corporate News übermittelt durch euro adhoc. Für den Inhalt ist der Emittent/Meldungsgeber verantwortlich. -------------------------------------------------------------------------------- Fusion/Übernahme/Beteiligung Wettenberg (euro adhoc) - (Wettenberg, 06.07.2012) - Die PVA TePla AG, Wettenberg, ein Hersteller von Anlagen für die Kristallisation von Silizium sowie von Vakuum- und Hochtemperaturanlagen, stärkt mit der Übernahme der Munich Metrology GmbH, München, ihre Kompetenz auf dem Gebiet der analytischen Systeme für die Halbleiterindustrie. Die PVA TePla AG übernimmt zum 6. Juli 2012 die Munich Metrology GmbH. Das Unternehmen, ursprünglich hervorgegangen aus der GeMeTec mbH, entwickelt und vertreibt weltweit innovative Analysesysteme zur Bestimmung der Oberflächenverunreinigungen auf Wafern für die Halbleiterindustrie. Insbesondere metallische Verunreinigungen können mittels der bei Munich Metrology entwickelten VPD (Vapour-Phase-Decomposition)-Technologie mit einer äußerst hohen Empfindlichkeit und Reproduzierbarkeit erfasst werden. Vollautomatisierte Systeme, die die VPD-Technologie in Kombination mit massenspektroskopischen Analyseverfahren (ICP-MS) einsetzen, genügen bezüglich der Bestimmung des Kontaminationsgrades von Wafern und Mikroelektronik-Bauelementen allerhöchsten Ansprüchen auch zukünftiger Entwicklungen. Mit der Übernahme der Munich Metrology GmbH, die im Geschäftsjahr 2011 ein Umsatzvolumen im niedrigen einstelligen Millionenbereich realisiert hat, baut die PVA TePla AG ihre technologische Kompetenz im Bereich der Wafer-Analytik (Metrologie) konsequent aus und stärkt die bestehenden Metrologie-Aktivitäten im Geschäftsbereich Semiconductor Systems. Neben den Ultraschallmikroskopen der PVA TePla Analytical Systems GmbH und Monitoring-Systemen für Scherspannungen des Produktbereiches Plasma Systems verfügt die PVA TePla AG nun über ein drittes Standbein im Bereich der 'high-end' Analytik für Wafer bis zu 450mm Durchmesser. "Es ist erklärtes Ziel unserer Strategie für den Geschäftsbereich Semiconductor Systems, komplementäre Technologien aufzubauen und damit der Halbleiterindustrie ein breiteres Produktspektrum und weitere, innovative Lösungen anzubieten", erläutert Dr. Arno Knebelkamp, Vorstandsvorsitzender der PVA TePla AG. Die Munich Metrology hat sich mit ihren 14 Mitarbeitern und den Tochtergesellschaften in Hsinchu, Taiwan und in Sacramento, CA, USA in den letzten Jahren positiv entwickelt und wird durch die Einbindung in die PVA TePla AG zusätzliche Umsatz- und Ergebnisbeiträge realisieren können. Darüberhinaus bedeuten Synergien in der Technologieentwicklung und die Integration in das weltweite Vertriebs- und Servicenetzwerk der PVA TePla AG klare Vorteile für den Kunden und damit zusätzliche Wachstumsimpulse. Dr. Walter Böhme, Geschäftsführer der Munich Metrology GmbH ergänzt: "Wir sind überzeugt davon, mit der PVA TePla AG den idealen Partner zur Weiterent-wicklung der Munich Metrology gefunden zu haben". Über den Kaufpreis haben beide Unternehmen Stillschweigen vereinbart. Rückfragehinweis: Dr. Gert Fisahn Tel.: +49 641 68690-400 E-Mail: gert.fisahn@pvatepla.com Ende der Mitteilung euro adhoc -------------------------------------------------------------------------------- Unternehmen: PVA TePla AG Im Westpark 10-12 D-35435 Wettenberg Telefon: +49(0)641 68690-0 FAX: +49(0)641 68690-800 Email: ir@pvatepla.com WWW: http://www.pvatepla.com Branche: Misc. Industrials ISIN: DE0007461006 Indizes: CDAX Börsen: Freiverkehr: Hannover, Berlin, München, Hamburg, Düsseldorf, Stuttgart, Regulierter Markt/Prime Standard: Frankfurt Sprache: Deutsch
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